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溫度沖擊試驗箱

溫度沖擊試驗箱,用于測試材料結構或復合材料,在瞬間下經高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,得以在最短時間內檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。
訪問次數(shù): 49
廠商性質: 生產廠家
產品時間: 2025-04-24

產品概述

產品用途:

本系列程序溫度沖擊試驗箱主要用于測試材料對高溫或極低溫的抵抗力,這種情況類似于不連續(xù)地處于高溫或低溫中的情形,冷熱沖擊試驗能使各種物品在最短的時間內完成測試。熱震中產生的變化或物理傷害是熱脹冷縮改變或其他物理性值的改變而引起的,采用PID系統(tǒng),各類產品才能獲得之信賴。熱震的效果包括成品裂開或破層及位移等所引起的電化學變化,PID系統(tǒng)的全數(shù)位元自動控制,將使您操作簡易。

冷熱沖擊試驗機是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)的測試設備,用于測試材料結構或復合材料,在瞬間下經高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,得以在最短時間內檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。

分為兩廂式和三廂式,區(qū)別在于試驗方式和內部結構不同,產品符合標準為:GB/T2423.1-2008試驗A 、GB/T2423.2-2008試驗B、GB-T10592-2008、GJB150.3-198、GJB360A-96方法107溫度沖擊試驗的要求。

滿足的試驗方法:GJB150.5-86  溫度沖擊試驗,符合MIL,IEC,JIS規(guī)范。

冷熱沖擊試驗機廣泛用于電子電器零組件、 自動化零部件、通訊組件、汽車  配件、金屬、化學材料、塑料等行業(yè),國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳  、電子芯片IC、半導體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對高、低溫的 反復抵拉力及產品于熱脹冷縮產出的化學變化或物理傷害,可確認產品的質量,從 精密的IC到重機械的組件,可作為其產品改進的依據(jù)或參考。

常用的沖擊溫度范圍:-40℃~150℃、-60℃~150℃


溫度沖擊試驗箱常規(guī)尺寸范圍:


內箱尺寸

外箱尺寸

50L

400*350*350mm

1295*1570*1805mm

80L

500*400*400mm

1600*1580*2000mm

100L

500*500*400mm

1650*1600*2100mm

150L

600*500*00mm

1780*1800*2200mm

備注:可根據(jù)產品尺寸和測試要求定制溫度以及測試腔尺寸,具體可致電


滿足試驗標準:

1.GB-2423.1-89(IEC68-2-1)試驗A:低溫試驗方法。

2.GB-2423.2-89(IEC68-2-2)試驗B:高溫試驗方法。

3.GJB360.8-87(MIL-STD-202F)高溫壽命試驗。

4.GBJ150.3(MIL-STD-810D)高溫試驗方法。

5.GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法。      

6.標GJB150.3-86;

7.標GJB150.4-86;

8.標GJB150.5-86;


技術參數(shù)

1、測試箱溫度沖擊范圍:-40℃~150℃

    高溫箱: +25℃~165℃    

    低溫箱: 0℃~-55℃

2、溫度波動度:±2℃;

3、溫度誤差:±2℃;

4、預熱速率:從常溫~150℃約30 min;  

5、預冷速率:從常溫~-55°C約70 min;  

6、電源:380V±38V   50Hz±1Hz

7、樣品架承重: 20Kg以內(可定制層板)。

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